กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) (อังกฤษ: Scanning Electron microscope) ประดิษฐ์ขึ้นครั้งแรกเมื่อปี พ.ศ. 2481 โดยเอม วอง เอนเดนนี ใช้ศึกษาโครงสร้างภายนอกของวัตถุ ลักษณะผิวภายนอกของเซลล์ ผิวโลหะ มองเห็นความลึกภาพปรากฏบนจอคอมพิวเตอร์เป็นภาพ 3 มิติ มีกำลังขยายสูงหลายหมื่นเท่า

อ้างอิง

• เพทาย บุณยรัตพันธุ์ และ รัตน์สุณี สุขพณิชนันท์. ชีววิทยา 1 (แอคทีฟพริ้นท์, กรุงเทพฯ; 2557; หน้า 30)